1. Thin film analysis by X-ray scattering
پدیدآورنده : / Mario Birkholz with contributions by Paul F. Fewster, Christoph Genzel
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه ایلام (ایلام)
موضوع : Thin films,X-ray spectroscopy
رده :
QC176
.
83
.
B57
2006
2. Thin film analysis by X-ray scattering
پدیدآورنده : / Mario Birkholz with contributions by Paul F. Fewster, Christoph Genzel
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Thin films,X-ray spectroscopy
رده :
QC176
.
83
.
B455
2006
3. Thin film analysis by X-ray scattering
پدیدآورنده : / Mario Birkholz with contributions by Paul F. Fewster, Christoph Genzel
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Thin films,X-ray spectroscopy
رده :
QC176
.
83
.
B57
2006